English: SEM (Scanning electron microscope) image of the presolar SiC X grain KJG-N4-585-2 after NanoSIMS analysis, and before slicing with the diamond ultramicrotome.
Дата
Источник
Adapted and modified from "Microanalytical Investigations of Presolar SiC Grains as Probes of Condensation Conditions in Astrophysical Environments" (PhD Dissertation) Figure 2.3: (a) https://openscholarship.wustl.edu/etd/865/
делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
https://creativecommons.org/licenses/by/2.0CC BY 2.0 Creative Commons Attribution 2.0 truetrue
Краткие подписи
Добавьте однострочное описание того, что собой представляет этот файл
Файл содержит дополнительные данные, обычно добавляемые цифровыми камерами или сканерами. Если файл после создания редактировался, то некоторые параметры могут не соответствовать текущему изображению.